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2
条
科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
芯片
成本控制
封装测试系统
D—10系统
图形调试
描述:
科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
科利登跻身ATE塔尖行列
作者:
东郭
来源:
电子设计应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体行业
科利登公司
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描述:
科利登跻身ATE塔尖行列
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