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条
科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者：
暂无
来源：
电子与封装
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述：
2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。
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