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首页>根据【关键词:测试】搜索到相关结果4条

科利登连续三年ATE供应商满意度第一: 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路测试科利登系统公司 ATE 供应商满意度; 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]

科利登推出Sapphire-D10系统: 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统封装测试集成电路科利登系统公司; 描述：高的并行能力。[第一段]

Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 经济化革新测试电子产品电池寿命操作性能图象质量制造商消费类; 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

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