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根据【关键词:测试能力】搜索到相关结果
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条
科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
作者：
暂无
来源：
电子元器件应用
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
测试系统
测试能力
自动测试设备
科利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述：
度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科利登新品提供先进的射频测试能力
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
测试能力
射频
Zigbee
科利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述：
科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力，进一步扩展了Sapphire D系列的测试能力。
科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者：
暂无
来源：
电子与封装
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述：
pphire D系列的测试能力。[第一段]
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