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日月光定购多台科利登的SoC测试系统Octet: 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： SoC测试半导体测试生产测试器件光测系统性能测试能力纳斯达克股票量产; 描述：统性能和测试能力，可以满足下一代器件技术，对测试系统测试容量和范围的要求。

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