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根据【关键词:测试能力】搜索到相关结果
3
条
科利登新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力,进一步扩展了Sapphire D系列的测试能力。
用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
器件测试
并行测试
特性分析
测试系统
专用芯片
高密度
测试能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述:
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
科利登推出新型测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路测试系统
Personal
科利登系统公司
非挥发性存储器
测试能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
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