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2
条
科利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试实验室
测试系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
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