检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(25)
按栏目分组
历史名人
(25)
按年份分组
2006
(7)
2005
(10)
2004
(3)
2003
(5)
按来源分组
中国集成电路
(5)
半导体技术
(4)
集成电路应用
(3)
电子测试(新电子)
(2)
电子产品世界
(2)
电子与电脑
(2)
电子元器件应用
(2)
电子与封装
(1)
国外电子测量技术
(1)
今日电子
(1)
相关搜索词
LINUX
Sun公司
Sapphire
科利登公司
半导体
增强型
多媒体
可配置
systems公司
半导体工业
图形接口
器件测试
团队
多功能
分支机构
低功耗
促成
处理器
吞吐量
供应商
存储器
首页
>
根据【关键词:测试系统】搜索到相关结果
1
条
科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述:
科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
首页
上一页
1
下一页
尾页