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首页>根据【关键词:测试系统】搜索到相关结果4条

芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试: 作者：丁辉文 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 温度稳定装置确测试系统热管理系统科利登公司芯片级温度稳定技术测试成本集成电路; 描述：芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本科利登系统公司芯片市场需求多功能; 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统。Sapphire D-10是一款创新的高产能多功能的圆片和封装测试系统，[第一段]

microtec购买多台科利登Sapphire D-10测: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试系统购买渗透力测试实验室市场有限公司混合信号音视频数字和多媒体; 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]

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