江西临川文化特色文献库

检索结果相关分组

按文献类别分组: 期刊文章(12)

按栏目分组: 历史名人 (12)

按年份分组: 2006(1); 2005(5); 2004(2); 2003(4)

按来源分组: 电子工业专用设备(4); 半导体技术(3); 电子测试(新电子)(1); 电子产品世界(1); 电子与封装(1); 集成电路应用(1); 中国集成电路(1)

相关搜索词

首页>根据【关键词:测试成本】搜索到相关结果1条

为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生: 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司总经理测试成本中国创新; 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生

首页上一页 1 下一页尾页