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Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: Raytheon公司  IMSElectm系统  测试  逻辑集成电路 
描述:Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 宽带数字信号处理器  测试  Octet系统  Ikanos公司 
描述:Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI  超大规模集成电路  测试  科利登系统公司  ATE  供应商  满意度 
描述:科利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
Credence亮相Semicon China 2003:
作者:周检兵  来源:集成电路应用 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  Mr.LarryDibattista  半导体行业  SemiconChina2003  中国市场  测试 
描述:供设计、测试验证和先进的光学检测方面的测试技术,使低测试成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可
科利登推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  科利登系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
科利登跻身ATE塔尖行列
作者:东郭  来源:电子设计应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体行业  科利登公司  ATE  IC  SoC  测试  ASL1000  ASL3000RF  市场 
描述:科利登跻身ATE塔尖行列
王安石巧对主考官
作者:杨晓苍  来源:小学生之友 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 王安石  临川  少年  江西  测试  州府  唐宋八大家  听后  宝塔  文学家 
描述:王安石巧对主考官
Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。