检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(4)
按栏目分组
历史名人
(4)
按年份分组
2006
(3)
2003
(1)
按来源分组
半导体技术
(1)
电子测试(新电子)
(1)
电子与电脑
(1)
电子产品世界
(1)
相关搜索词
图形接口
分析能力
低功耗
复杂度
首页
>
根据【关键词:工程验证】搜索到相关结果
4
条
科利登公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
作者：
暂无
来源：
电子产品世界
年份：
2003
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
消费电子
工程验证
优化设计
逻辑集成电路
测试系统
软件工具
特性测试
工程实验室
实时处理
图形接口
描述：
科利登公司把IMS Vanguard系列延伸增长快速的消费
香港科技园运用科利登的工具完善其诊断和特征分析能力
作者：
暂无
来源：
电子与电脑
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述：
科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation,纳斯达克代码：CMOS）宣布：香港科技园（HKSTP）在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础，增加了激光调试和先进的发射显微镜，进一步完善其特征分析产品系列。[第一段]
QuickLogic选用科利登Sapphire D-10系统
作者：
暂无
来源：
电子测试(新电子)
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
测试系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述：
科利登系统（Credence）有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统，并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述：
SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]
首页
上一页
1
下一页
尾页