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科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
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作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
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描述：效和稳固。GlobalScan-I支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。物镜的选择包括用于倒贴片和线绑定封装芯片的两个固体浸润物镜系统、用于较难探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope相同的功能。将EmiScope技术结合到GlobalScan-I系统中允许用户通过重新装配,在整体隔离技术和节点级信号探测间切换系统功能。 科利登董事会主席兼首席执行官Graham Siddall博士说:“现代集成电路呈现广泛的失效模式,从结构化失效到间歇的或敏感的缺陷,可能的根本原因会有很多。通过隔离与设计或制造工艺无关...
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