检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(4)
按栏目分组
历史名人
(4)
按年份分组
2006
(1)
2004
(2)
2003
(1)
按来源分组
国外电子测量技术
(1)
中国集成电路
(1)
今日电子
(1)
电子与电脑
(1)
相关搜索词
失效分析
失效模式
首页
>
根据【关键词:失效分析】搜索到相关结果
1
条
Raytheon公司选用科利登的IMS Electra系统
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2003
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
逻辑集成电路
验证测试系统
多芯片模块
系统公司
性能可靠
系统测试
商业部
失效分析
测试工程
系统架构
描述：
科利登系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能
首页
上一页
1
下一页
尾页