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失效分析
失效模式
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条
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者：
暂无
来源：
电子与电脑
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述：
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者：
暂无
来源：
今日电子
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换系统
竞争优势
制造工艺
描述：
效和稳固。GlobalScan-I支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。物镜的选择包括用于倒贴片和线绑定封装芯片的两个固体浸润物镜系统、用于较难探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope相同的功能。将EmiScope技术结合到GlobalScan-I系统中允许用户通过重新装配,在整体隔离技术和节点级信号探测间切换系统功能。 科利登董事会主席兼首席执行官Graham Siddall博士说:“现代集成电路呈现广泛的失效模式,从结构化失效到间歇的或敏感的缺陷,可能的根本原因会有很多。通过隔离与设计或制造工艺无关...
Raytheon公司选用科利登的IMS Electra系统
作者：
暂无
来源：
中国集成电路
年份：
2003
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
逻辑集成电路
验证测试系统
多芯片模块
系统公司
性能可靠
系统测试
商业部
失效分析
测试工程
系统架构
描述：
科利登系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
科利登系统有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述：
科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上详细介绍了以下产品：[第一段]
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