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1
条
科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
作者：
暂无
来源：
世界电子元器件
年份：
2007
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
高数据速率
测试解决方案
科利登系统公司
半导体器件
高速串行总线
可测性设计
微处理器
环路测试
描述：
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
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