检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章(3)
报纸(1)
按栏目分组
历史名人 (4)
按年份分组
2006(2)
2003(2)
按来源分组
国外电子测量技术(1)
电子资讯时报(1)
集成电路应用(1)
半导体技术(1)
科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析