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科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  科利登系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统。Sapphire D-10是一款创新的高产能多功能的圆片和封装测试系统,[第一段]
科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统  芯片 
描述:科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
日月光定购多台科利登的SoC测试系统Octet
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: SoC测试  半导体测试  生产测试  器件  光测  系统性能  测试能力  纳斯达克  股票  量产 
描述:统性能和测试能力,可以满足下一代器件技术,对测试系统测试容量和范围的要求。
科利登新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 芯片测试  高速  端对端  成本优势  测试选件  通道数量  参数分析  总线测试  IP技术 
描述:这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]