检索结果相关分组
Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: Raytheon公司  IMSElectm系统  测试  逻辑集成电路 
描述:Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 宽带数字信号处理器  测试  Octet系统  Ikanos公司 
描述:Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
IC China 2005部分参展企业介绍
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  企业介绍  Cadence公司  科利登公司  IC  参展  有限公司  国际贸易  微电子 
描述:计算机和测试之间的高速接口,多site并行测试,并发测试,Falcon的这些特性能有效地降低测试成本。Kalos:科利登Kalos2测试系统是Kalos家族的最新成员,用于测试当今以及下一代非挥发性
测试与测量
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试仪  科利登公司  采样示波器  测量  数据采集设备  PXI模块  HSDPA  自动测试  自动控制 
描述:科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2.0高速数据采集设备;[第一段]
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI  超大规模集成电路  测试  科利登系统公司  ATE  供应商  满意度 
描述:科利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
Credence亮相Semicon China 2003:
作者:周检兵  来源:集成电路应用 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  Mr.LarryDibattista  半导体行业  SemiconChina2003  中国市场  测试 
描述:供设计、测试验证和先进的光学检测方面的测试技术,使低测试成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可
科利登推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  科利登系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
IC China2005科利登公司展品介绍
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  展品介绍  IC  Kalos 
描述:Sapphire D-10;Kalos;Falcon。[第一段]