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图形调试
多功能
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条
科利登推出注重
芯片
成本的高量产测试系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
芯片
成本控制
封装测试系统
D—10系统
图形调试
描述:
科利登推出注重
芯片
成本的高量产测试系统
科利登在IC China 2005展出注重
芯片
成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试系统
IC
成本
科利登系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统。Sapphire D-10是一款创新的高产能多功能的圆片和封装测试系统,[第一段]
科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
芯片
描述:
科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试实验室
测试系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
信号
芯片
,以及一些工业上应用的高电压
芯片
。[第一段]
科利登推出Sapphire-D10作为消费类
芯片
量产测试解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
科利登新增端对端6.4Gbps高速
芯片
测试产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片
测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
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