检索结果相关分组
- 科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 芯片 成本控制 封装测试系统 D—10系统 图形调试
- 描述：科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本 科利登系统公司 芯片 市场需求 多功能
- 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统。Sapphire D-10是一款创新的高产能多功能的圆片和封装测试系统，[第一段]
- 科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 设计纠错 验证 Verity系统 芯片
- 描述：科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： DMEA工程实验室 IMS Vanguard测试系统 科利登公司 微处理器
- 描述：DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 Systems 半导体设计 微处理器 供应商 性价比 器件
- 描述：新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。
- 科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
- 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试
- 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
- 科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试实验室 测试系统 欧洲 混合信号 多媒体 高电压 芯片 视频
- 描述：信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案，帮助用户满足不断
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 高数据速率 Systems 用户 半导体工业 微处理器 测试平台 供应商
- 描述：件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]