检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(134)
报纸
(36)
会议论文
(6)
学位论文
(3)
按栏目分组
历史名人
(167)
地方风物
(6)
地方文献
(3)
宗教集要
(2)
文化溯源
(1)
按年份分组
2014
(13)
2012
(8)
2008
(17)
2006
(16)
2004
(24)
2003
(12)
1999
(3)
1998
(4)
1989
(3)
1985
(1)
按来源分组
电子工业专用设备
(10)
电子元器件应用
(3)
电子与封装
(3)
国外电子测量技术
(2)
世界电子元器件
(1)
海口晚报
(1)
中国计算机用户
(1)
上海教育
(1)
学苑教育
(1)
社会科学论坛(学术评论卷)
(1)
相关搜索词
测试
周礼全
器件
基本规律
半导体材料
多面手
失效分析
固态浸人透镜
Verity系统
冲气
使用主体
士文化
户口调查
犯罪分子
古代诗歌
吴宏鑫
史学
大治安
基本范畴
哈尼
《周礼》
税收工作
段玉裁
汤显祖
企业管理
地震解释
司寇
创设情境
卫生事业管理
首页
>
根据【检索词:RF系统】搜索到相关结果
134
条
Atmel采用科利登无线测试
系统
实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
测试解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF
系统
作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科利登GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统
定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述:
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
QuickLogic选用科利登Sapphire D-10
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科利登
系统
(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试
系统
,并将选用该
系统
作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试
系统
。[第一段]
科利登新推出的Sapphire D-40
系统
能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
科利登
系统
公司2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科利登
系统
公司2004年第二季度财务报告
中国古代国家宗教的结构、功能和价值
系统
:“中国古代国家宗教
作者:
邹昌林
木子
来源:
学术动态(北京)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
中国
古代
国家宗教
科研工作
文化史
文明史
《周礼》
宗教起源
宗教结构
宗教功能
价值
系统
描述:
从整体上理清中国的文化、文明与宗教的关系,是正确理解中国国家宗教的出发点。
Ikanos选择科利登的Octet测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
公司
Ikanos通讯公司
Octet测试
系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择科利登的Octet测试
系统
条码呼唤POS为
系统
成员服务应是条码工作的主题
作者:
毛新元
来源:
四川标准化与计量
年份:
1995
文献类型 :
期刊文章
关键词:
条形码
商品
POS
系统
标准化
描述:
条码呼唤POS为
系统
成员服务应是条码工作的主题
DMEA购买科利登IMS Vanguard测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
DMEA工程实验室
IMS
Vanguard测试
系统
科利登公司
微处理器
描述:
DMEA购买科利登IMS Vanguard测试
系统
市场要闻:科利登(credence)
系统
公司(北京、上海)
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
2004年6月15、18日科利登(credence)
系统
公司技术研讨会分别在上海、北京举行。众多国内外IC测试专家、学者及国内晶圆代工厂、封装测试企业的相关工程师出席了本次会议。
首页
上一页
5
6
7
8
9
10
11
12
13
下一页
尾页