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测试
分支机构
半导体材料
半导体行业
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条
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登
(Credence)
系统
作者:
邬小梅
卢玥光
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
美国科
利
登
系统
公司
陈绪
人物采访
集成电路产业
战略部署
描述:
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登
(Credence)
系统
美国
利
登
公司试验激光陀螺惯性
系统
作者:
暂无
来源:
国际航空
年份:
1982
文献类型 :
期刊文章
描述:
美国
利
登
公司试验激光陀螺惯性
系统
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
科
利
登
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
半导体器件
高速串行总线
可测性设计
微处理器
环路测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
Credence
科
利
登
为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
科
利
登
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试能力
自动测试设备
科
利
登
系统
公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该
系统
测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登
发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了
科
利
登
市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
Tripath技术公司购买
科
利
登
(Credence)的混合
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试设备
技术公司
混合信号
领先者
解决方案
生产测试
半导体工业
系统
公司
购买
设计
描述:
作为一个为全球半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先者,
科
利
登
系统
公司日前宣布 Tripath 技术公司购买了ASL 3000测试设备。Tripath 技术
科
利
登
提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
集成电路
测试技术
系统
级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。
科
利
登
系统
公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。
科
利
登
系统
公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
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