检索结果相关分组
- 科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
- 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
- 科利登公司2003财政年度第一季度净亏损为2870万美元
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 第一季度 财政年度 净亏损 测试方案 美元 半导体工业 财政收入 供应商 日结束 公司
- 描述：2月18日,为全球半导体工业从设计到生产提供测试方案的主要供应商科利登公司公开了于2003年1月31日结束的第一季度的财政收入情况。
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electra系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 逻辑集成电路 验证测试系统 多芯片模块 系统公司 性能可靠 系统测试 商业部 失效分析 测试工程 系统架构
- 描述：科利登系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能
- 科利登测试系统被Silicon Image采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Silicon Image 测试系统 科利登系统公司 gigabit 解决方案 测试平台 电子器件 有限公司 数据传输 数字媒体 存储器 消费类 供应商 半导体
- 描述：科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
- 威盛电子将科利登(Credence)的Octet作为首选芯
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 电子 生产测试 计算机芯片 测试时间 测试系统 可配置 芯片组 股份有限公司 系统公司
- 描述：科利登系统公司最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将科利登公司的可配置 SOC 芯片测试系统用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
- 科利登公司公布2003财年第一季度结果
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 第一季度 财政年度 测试方案 美元 半导体工业 销售额 供应商 净亏损 有限公司 日结束
- 描述：为全球半导体工业从设计到生产提供测试方案的主要供应商科利登公司(Nasdaq:CMOS),日前公开了于2003年1月31日结束的第一季度的财政收入情况。2003财政年度第一季度的净销售额为3,670
- Zetex半导体选择科利登的ASL3000测试其类型广泛的
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： ASL3000 混合信号 拟和 科利登系统公司 类型 测试解决方案 集成电路器件 美国加州 半导体业 测试成本 分立器件 产品市场 测试方案 供应商 设计
- 描述：说：“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
- IC China2005科利登公司展品介绍
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 展品介绍 IC Kalos
- 描述：Sapphire D-10；Kalos；Falcon。[第一段]