检索结果相关分组
科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
Ikanos选择科利登的Octet测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  Ikanos通讯公司  Octet测试系统  数字信号处理 
描述:Ikanos选择科利登的Octet测试系统
全新的科利登:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的科利登:提供先进技术降低测试成本
DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: DMEA工程实验室  IMS  Vanguard测试系统  科利登公司  微处理器 
描述:DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
矽格定购科利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 矽格微电子公司  Sapphire测试系统  科利登系统有限公司  SoC器件  定购 
描述:科利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:测试与封装外包市场的增长。
应用Weibull理论估算水压致裂测试的原地最大水平主应力
作者:K shin 郭启良  来源:地壳构造与地壳应力 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: Weibull理论  估算  水压致裂  水平主应力  材料张性  圆盘试验  抗张强度  地应力测量 
描述:应用Weibull理论估算水压致裂测试的原地最大水平主应力
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  科利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  科利登公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力