检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(451)
报纸
(249)
会议论文
(14)
学位论文
(5)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(628)
地方风物
(51)
地方文献
(20)
宗教集要
(12)
非遗保护
(5)
红色文化
(3)
才乡教育
(1)
按年份分组
2009
(24)
2008
(32)
2006
(48)
2005
(55)
2004
(48)
2003
(29)
1988
(5)
1987
(9)
1985
(4)
1970
(1)
按来源分组
其它
(28)
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(18)
半导体技术
(16)
集成电路应用
(12)
电子测试(新电子)
(10)
中国矿山工程
(2)
硫酸工业
(1)
武汉文史资料
(1)
国外采矿技术快报
(1)
相关搜索词
半导体工业
品位
裂缝方位
公司
半导体生产
大城市
发展
分支机构
团队
含砷黄铁矿
器件
利用
科利登公司
地下矿山
失效分析
Kalos
多金属矿石
器件测试
Raytheon公司
SoC芯片
冶炼厂
天井钻机
孔子
处理器
变质作用
出售
合同纠纷
测定
地下矿
首页
>
根据【检索词:波利登公司利用地下气体探测矿床】搜索到相关结果
451
条
冀东遵化:玉田一带所谓的硅藻土应是硅土
作者:
卢占祥
来源:
建材地质
年份:
1992
文献类型 :
期刊文章
关键词:
硅藻土
硅土
矿床
组分
描述:
通过对
矿床
产出层位、矿休产状、矿石组分结构的分析,提山河北省唐山地区中元古代地层中产出的以往所称的硅藻土,其实是一种由风化淋滤成因的硅土。
科
利
登
(Cre dence):访科
利
登
系统(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
“乘人之危”和“趁人之危”
作者:
韩娟
来源:
语文知识
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
乘人之危
《汉语成语大词典》
《汉语大词典》
利用
描述:
许正元主编《常见错读错写错用字词词典》第37页对“乘人之危”的解释是:“乘:
利用
,凭借。指
利用
他人危难之时,进行要挟、打击或陷害。不能写作趁人之危。”我们认为这样的说法是不恰当的。《汉语大词典
科
利
登
新品提供先进的射频测试能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司
近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
玻
利
登
-诺津克除汞技术及应用
作者:
许波
来源:
有色冶炼
年份:
2000
文献类型 :
期刊文章
关键词:
烟气除汞
玻
利
登
诺津克技术
硫化法
氯化法
描述:
介绍了玻
利
登
-诺津克除汞工艺及该技术在西北铅锌冶炼厂的应用结果。
创建业界领导者——科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦
公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——科
利
登
投资人更新
科
利
登
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试解决方案
科
利
登
系统
公司
半导体器件
高速串行总线
可测性设计
微处理器
环路测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
新型科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence科
利
登
为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登
(Credence)系统
作者:
邬小梅
卢玥光
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
美国科
利
登
系统
公司
陈绪
人物采访
集成电路产业
战略部署
描述:
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登
(Credence)系统
首页
上一页
5
6
7
8
9
10
11
12
13
下一页
尾页