检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章(151)
报纸(81)
会议论文(6)
学位论文(6)
按栏目分组
历史名人 (231)
地方风物 (7)
地方文献 (3)
宗教集要 (2)
文化溯源 (1)
按年份分组
2012(10)
2010(19)
2009(7)
2008(25)
2006(17)
2005(19)
2004(24)
2003(14)
2001(2)
1994(4)
按来源分组
其它(11)
电子与封装(3)
国外电子测量技术(2)
珠海特区报(1)
鲁中晨报(1)
株洲晚报(1)
现代金报(1)
青岛晚报(1)
南方都市报(1)
社会科学论坛(学术评论卷)(1)
科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
《计算机集成制造系统—CIMS》期刊首届编委会在北京召开
作者:暂无 来源:计算机集成制造系统 年份:1996 文献类型 :期刊文章 关键词: 编委会  计算机集成制造系统  自动化  院士  参加会议  主题  首席科学家  高技术  吴澄  专家组 
描述:会议。国家科委高技术司自动化处赵新力副处长应邀出席了会议。参加会议的还有CIMS主题办公室和CIMS编辑部全体成员。会上,编委会主任委员蒋新松院士、编委会副主任委员吴澄院士分别就CIMS杂志的作用与今后任务以及
论《周礼·考工记》玉器词语系统的特征
作者:李亚明  来源:唐山学院学报 年份:2008 文献类型 :期刊文章 关键词: 考工记  玉器  词语系统 
描述:向、上下和横向的结构关联,由此形成词语立体网络,进而体现了事物联系的普遍性。
科利登公司简介 科利登 系统公司
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司简介  自动测试设备  美国加利福尼亚州  ISO9001认证  检测技术  测试设施  注册商标  测试验证  半导体生产  测试成本 
描述:科利登公司简介 科利登 系统公司
科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体  汽车工业  综合测试系统  气动踏板  开发应用  AMIS  安全气囊  并行测试  ASIC  精度测试 
描述:科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
科利登(Credence)公司混合信号测试系统
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  测试系统  电子器件  测试设备  提高成品率  器件测试  电子芯片  测试成本  集成电路  测试要求 
描述:科利登(Credence)公司混合信号测试系统
科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
科利登系统(上海)有限公司正式成立
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:科利登系统(上海)有限公司正式成立
科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率