检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(183)
报纸
(40)
按栏目分组
历史名人
(210)
地方文献
(5)
地方风物
(4)
红色文化
(3)
宗教集要
(1)
按年份分组
2014
(13)
2013
(5)
2008
(4)
2006
(33)
2003
(22)
1998
(4)
1997
(1)
1994
(2)
1992
(3)
1961
(1)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
姑苏晚报
(4)
新民晚报
(1)
上海商报
(1)
中国京剧
(1)
中国档案
(1)
凉都晚报
(1)
中国诗歌
(1)
江苏社会科学
(1)
杭州大学学报(哲学社会科学版)
(1)
相关搜索词
北宋
制科
世界
半导体生产
章学诚
金山寺
策论
积极思维
测试
四物汤
半导体行业
儒家经学
卫生防护
器件
临床麻醉
半导体材料
存储器件
半导体工业
威盛电子股份有限公司
发展策略
博士
团队
Sapphire
企业重组
分支机构
发展
SIG
女科百效全书
何源富
首页
>
根据【检索词:科诨】搜索到相关结果
183
条
科
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述:
科
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
科
利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
汽车工业
综合测试系统
气动踏板
开发应用
AMIS
安全气囊
并行测试
ASIC
精度测试
描述:
科
利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
科
利登(Credence)公司混合信号测试系统
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号测试
测试系统
电子器件
测试设备
提高成品率
器件测试
电子芯片
测试成本
集成电路
测试要求
描述:
科
利登(Credence)公司混合信号测试系统
ATE巨头
科
利登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——
科
利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
科
利登系统(上海)有限公司正式成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登系统(上海)有限公司正式成立
科
利登系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登系统公司(Credence System)将并购恩普
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型
科
利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试解决方案
系统定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
芯片
描述:
科
利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
首页
上一页
4
5
6
7
8
9
10
11
12
下一页
尾页