检索结果相关分组
- 科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
- 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electra系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 逻辑集成电路 验证测试系统 多芯片模块 系统公司 性能可靠 系统测试 商业部 失效分析 测试工程 系统架构
- 描述：科利登系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能
- 科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体 汽车工业 综合测试系统 气动踏板 开发应用 AMIS 安全气囊 并行测试 ASIC 精度测试
- 描述：科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
- 科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 掩模 测试解决方案 系统定位 集成电路 量产时间 物理分析 供应商 问题 产品
- 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- ELMOS签署了购买多台科利登Piranha系统协议
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 签署 购买 产品线 合作伙伴 科利登公司 需求 协议 ha系统 器件 平台
- 描述：科利登公司日前宣布，ELMOS半导体签署了购买多台科利登Piranha系统的协议。作为科利登的长期合作伙伴，ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
- 科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
- 描述：效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
- 科利登系统公司2004年第二季度财务报告
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司2004年第二季度财务报告