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科利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  科利登系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:。科利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科利登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:王明伟  来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 新潮流  测试系统  低成本  半导体工业  生产商  解决方案  经济化  产品测试  技术发展  测试设备 
描述:科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
科利登(Credence)公司混合信号测试系统
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  测试系统  电子器件  测试设备  提高成品率  器件测试  电子芯片  测试成本  集成电路  测试要求 
描述:科利登(Credence)公司混合信号测试系统
ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  科利登公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  科利登系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:科利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 解决方案  测试系统  性能  射频芯片  开发团队  灵活度  科罗拉多  开发时间  分支机构  无线测试 
描述:科利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用科利登无线测试系统实现高效率
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  测试解决方案  无线器件  高效率  射频芯片  ASL3000  Atmel公司  分支机构  团队  工程开发 
描述:科利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  射频  RF  测试解决方案  Zigbee  半导体工业  WiMax  有限公司  测试选件 
描述:pphire D系列的测试能力。[第一段]