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半导体工业
公司
半导体生产
发展
器件
科利登公司
失效分析
Kalos
器件测试
Raytheon公司
SoC芯片
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385
条
Zetex半导体购买多台
科
利
登
ASL3000系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科
利
登
系统
公司
混合信号
测试成本
器件
拟和
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
科
利
登
发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了
科
利
登
市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
科
利
登
提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
集成电路
测试技术
系统级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。
科
利
登
系统
公司
适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。
科
利
登
系统
公司
是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与
科
利
登
的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
科
利
登
测试系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司
13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
威盛电子将
科
利
登
(Credence)的Octet作为首选芯
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
电子
生产测试
计算机芯片
测试时间
测试系统
可配置
芯片组
股份有限公司
系统
公司
描述:
科
利
登
系统
公司
最近宣布,威盛电子股份有限公司已经将
科
利
登
公司
的可配置 SOC 芯片测试系统用作该公司计算机芯片组的量产测试。Octect 高效的测试时间及性能以其比竞争对手更为低廉的全面测试成本
Zetex半导体选择
科
利
登
的ASL3000测试其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统
公司
类型
测试解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试成本
分立器件
产品市场
测试方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
科
利
登
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利
登
系统
公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利
登
系统
公司
近日宣布:根据VLSI
公司
2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备
公司
中排名第四。[第一段]
科
利
登
与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工程
合作
北方
科
利
登
系统
公司
IC
半导体产品
SoC测试
工业大学
特性分析
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
科
利
登
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems
公司
Sun
公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
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