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SoC器件
测试
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器件
半导体材料
吞吐量
半导体行业
科利登公司
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Sapphire
Raytheon公司
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根据【检索词:矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统】搜索到相关结果
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条
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
测试
成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
科
利
登
(Cre dence):访
科
利
登
系统
(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试
设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换
系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换
系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产
测试
设备对接。该
系统
与
科
利
登
的EmiScope
系统
(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
Raytheon公司选用
科
利
登
的IMS Electra
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
逻辑集成电路
验证
测试
系统
多芯片模块
系统
公司
性能可靠
系统
测试
商业部
失效分析
测试
工程
系统
架构
描述:
科
利
登
系统
公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运
系统
商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证
测试
系统
。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的
测试
系统
,能
科
利
登
SZ M3650
系统
得到汽车半导体厂商的青睐
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
汽车工业
综合测试
系统
气动踏板
开发应用
AMIS
安全气囊
并行
测试
ASIC
精度
测试
描述:
科
利
登
SZ M3650
系统
得到汽车半导体厂商的青睐
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
科
利
登
系统
公司(Credence System)将并购恩普
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
公司(Credence System)将并购恩普
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
新型
科
利
登
GlobalScan-Ⅰ
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试
解决方案
系统
定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
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