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副校长
Raytheon公司
Octet系统
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PXI模块
测试
供应商
半导体行业
Sapphire
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根据【检索词:测试程序开发】搜索到相关结果
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条
科利登具有6.4G速度
测试
能力的Sapphire S
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的
开发
。[第一
科利登的Sapphire S
测试
系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登新品提供先进的射频
测试
能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
能力
射频
Zigbee
科利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试
平台
无线电话
描述:
科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40
测试
平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在
测试
无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
2001年文科综合能力
测试
历史试题的能力考查
作者:
祝旭东
来源:
历史教学
年份:
2001
文献类型 :
期刊文章
关键词:
文科综合
综合能力
测试
历史试题
历史学科
应用能力
历史现象
历史事实
历史概念
历史进程
王安石变法
描述:
2001年文科综合能力
测试
历史试题的能力考查
用下一代基于数字信号处理的仪器应对新兴多频带模拟
测试
挑战
作者:
Ross
Martindale
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模拟/混合信号集成电路
音频编解码器件
音频/视频数字化仪器卡
任意波形发生器仪器卡科利登的ASL
3000
测试
系统
描述:
满足性能需求的仪器.新的多频带模拟仪器的引入,使工程师能够应对从音频到视频,成本敏感的消费类混合信号器件的模拟
测试
挑战.通过提供更多的供电能力,这些新仪器进一步加强了自动化
测试
设备的能力,从而降低了
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
作者:
丁辉文
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
温度稳定装置确
测试
系统
热管理系统
科利登公司
芯片级温度稳定技术
测试
成本
集成电路
描述:
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
科利登:增强型SZ Falcon
测试
系统
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
增强型
串行总线
数字信号处理
任意波形发生器
数据传输
模拟波形
混合信号
测试
程序
开发
测试
要求
测试
系统
描述:
科利登:增强型SZ Falcon
测试
系统
科利登推出具有6.4G bps
测试
能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试
能力
自动测试设备
科利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统
测试
和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的
开发
。[第一段]
科利登发布D-6432DFT
测试
解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试
平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire
测试
平台。[第一段]
科利登提供从设计到生产全套的
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
集成电路
测试
技术
系统级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。科利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科利登系统公司是世界半导体行业领先的
测试
供应商,提供从设计到生产全套的
测试
解决方案
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