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推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  高数据速率  Systems  用户  半导体工业  微处理器  测试平台  供应商 
描述:件。该设备的推出再次强化了市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
提供从设计到生产全套的测试解决方案
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  集成电路  测试技术  系统级芯片  嵌入式温度稳定技术  Personal  Kalos  2  ASL  3000RF 
描述:系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:王明伟  来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 新潮流  测试系统  低成本  半导体工业  生产商  解决方案  经济化  产品测试  技术发展  测试设备 
描述:引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
ATE巨头掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
Silicon Image购买了Sapphire测试
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  电子器件  测试系统  消费类  购买  系统公司  gigabit  一代  测试解决方案  半导体工业  测试平台  有限公司  数据传输  供应商  存储器  代码 
描述:些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  射频  RF  测试解决方案  Zigbee  半导体工业  WiMax  有限公司  测试选件 
描述:pphire D系列的测试能力。[第一段]
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
全新的:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的:提供先进技术降低测试成本