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测试
图象质量
器件
科利登公司
systems公司
Sun公司
Raytheon公司
Sapphire
SoC器件
Octet系统
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根据【检索词:科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统】搜索到相关结果
455
条
ATE巨头
科
利
登
掀起
测试
行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
ATE
行业
科
利
登
公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利
登
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产
测试
解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本
测试
解决方案而设计。[第一段]
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
测试
成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
科
利
登在2006年度SEMICON China展会上展出
S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科
利
登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科
利
登
系统
有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。
科
利
登在SEMICON China展会上
Credence Systems推出新的桌面
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
桌面
测试
系统
PersonalKalos2
非易失性存储器
描述:
Credence Systems推出新的桌面
测试
系统
科
利
登
(Cre dence)加大本土化服务、降低
测试
成本,
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
测试
设备
产品量
测试
系统
有限公司
解决方案
总经理
成本
会展中心
中国市场
描述:
领先的提供从设计到生产全套
测试
解决方案的供
科
利
登
与蔚华合并台湾业务,服务客户
测试
需求
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
台湾地区
合并
服务
科
利
登
系统
公司
业务
需求
客户
股份有限公司
技术整合
描述:
区用户的支持。[第一段]
为不断降低
测试
成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
总经理
测试
成本
中国
创新
描述:
为不断降低
测试
成本而创新——访
科
利
登
公司中国区总经理陈绪先生
科
利
登
新增端对端6.4Gbps高速芯片
测试
产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片
测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线
测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线
测试
的低成本解决方案。[第一段]
科
利
登
展示降低
测试
成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
中国市场
测试
成本
量产时间
解决方案
ASL
3000RF
描述:
科
利
登
展示降低
测试
成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
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