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图象质量
测试
Sapphire
半导体行业
发展
Raytheon公司
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加工成本
器件
存储器件
Octet系统
SoC芯片
科利登公司
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根据【检索词:科利登:成就测试帝国】搜索到相关结果
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条
日月光定购多台
科
利
登
的SoC
测试
系统Octet
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
SoC
测试
半导体
测试
生产
测试
器件
光测
系统性能
测试
能力
纳斯达克
股票
量产
描述:
统性能和
测试
能力,可以满足下一代器件技术,对
测试
系统
测试
容量和范围的要求。
Micrel购买
科
利
登
ASL系统用于混合信号
测试
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Micrel公司
科
利
登
系统公司
混合信号
测试
ASL3000
ASL1000
描述:
Micrel购买
科
利
登
ASL系统用于混合信号
测试
科
利
登
展示降低
测试
成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
中国市场
测试
成本
量产时间
解决方案
ASL
3000RF
描述:
科
利
登
展示降低
测试
成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
全球有超过150套的
科
利
登
的3.2Gbps
测试
设备用于高速
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,
测试
承包商及IDM领导厂商。
科
利
登
D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产
测试
,包括HyperTransport
欧洲领先的
测试
实验室Microtec购买多台
科
利
登
Sapp
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
服务
测试
领域 满足客户需求:访
科
利
登
系统公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
首席执行官
服务
测试
客户需求
测试
解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科
利
登
公司
工业设计
描述:
科
利
登
系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
Ikanos选用
科
利
登
Octet用于宽带数字信号处理并行
测试
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
Ikanos公司
Octet
数字信号处理
并行
测试
描述:
Ikanos选用
科
利
登
Octet用于宽带数字信号处理并行
测试
Atmel利用
科
利
登
的ASL 3000RF^TM无线
测试
系
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
吞吐量
解决方案
测试
效率
测试
系统
网络分析技术
模拟信号
系统特点
接收器
市场提供
处理器
描述:
F是
科
利
登
具有高
测试
吞吐量、较小占地面积的线性和模拟信号 IC
测试
系统之一。该系统特点之一是采用专利的调制矢量网络分析技术(MFVNA),这一技术与系统的高并行度结构结合可以为RFIC提供无可比拟
科
利
登
公司简介
科
利
登
系统公司
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
公司简介
自动测试设备
美国加利福尼亚州
ISO9001认证
检测技术
测试
设施
注册商标
测试
验证
半导体生产
测试
成本
描述:
科
利
登
公司简介
科
利
登
系统公司
科
利
登
最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商一科
利
登
系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
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