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相关搜索词
SoC器件
测试
图象质量
器件
半导体材料
吞吐量
半导体行业
科利登公司
systems公司
Sapphire
Raytheon公司
多媒体
ASL1000
存储器件
Octet系统
半导体工业
存储器
多功能
低功耗
复杂度
增强型
器件测试
分支机构
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Octet测试系统
Vanguard测试系统
发展
XDSL
供应商
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根据【检索词:矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统】搜索到相关结果
418
条
Micrel购买
多台
科
利
登
ASL 3000和ASL 100
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号
测试
Micrel公司
科
利
登
ASL3000
ASL1000
系统
描述:
Micrel购买
多台
科
利
登
ASL 3000和ASL 100
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
作者:
暂无
来源:
无线电工程
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
DA
测试
公司
QuartetOne
SoC芯片
测试
能力
描述:
DA
测试
公司应用
科
利
登
Quartet One来提高
测试
能力
Atmel购买
科
利
登
的
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
Atmel公司
测试
解决方案
科罗拉多州
有限公司
RF
系统
射频芯片
无线器件
开发团队
分支机构
开发时间
ASL
灵活度
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布,Atmel公司购买了ASL 3000RF
系统
作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
科
利
登
新品提供先进的射频
测试
能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
能力
射频
Zigbee
科
利
登
公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试
平台
无线电话
描述:
科
利
登
公司近日宣布:在其新的
Sapphire
D-40
测试
平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在
测试
无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科
利
登
推出具有6.4G bps
测试
能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试
能力
自动测试设备
科
利
登
系统
公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该
系统
测试
和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登
发布D-6432DFT
测试
解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试
平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了
科
利
登
市场领先的
Sapphire
测试
平台。[第一段]
科
利
登
提供从设计到生产全套的
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
集成电路
测试
技术
系统
级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。
科
利
登
系统
公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。
科
利
登
系统
公司是世界半导体行业领先的
测试
供应商,提供从设计到生产全套的
测试
解决方案
Zetex半导体选择
科
利
登
的ASL3000
测试
其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统
公司
类型
测试
解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试
成本
分立器件
产品市场
测试
方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的
测试
方案。
ATE巨头
科
利
登
掀起
测试
行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
ATE
行业
科
利
登
公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利
登
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产
测试
解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本
测试
解决方案而设计。[第一段]
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