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条
科利登:成就
测试
帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科利登:成就
测试
帝国
科利登发布D-6432DFT
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
Systems
半导体设计
微处理器
供应商
性价比
器件
描述:
半导体设计、
测试
解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于
测试
科利登推出新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路
测试
系统
Personal
科利登系统公司
非挥发性存储器
测试
能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统Kalos 2和工程
测试
系统Personal Kalos 2完全兼容。
用于消费类器件
测试
的解决方案——Sapphire D-10
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
器件
测试
并行
测试
特性分析
测试
系统
专用芯片
高密度
测试
能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述:
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及
产品
的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁
Credence Systems推出新的桌面
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
桌面
测试
系统
PersonalKalos2
非易失性存储器
描述:
Credence Systems推出新的桌面
测试
系统
测试
效应是过程依赖还是内容依赖
作者:
丁静
刘湍丽
刘希平
来源:
心理科学
年份:
2012
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
效应
测验间隔
过程依赖
内容依赖
描述:
结果:间隔5分钟和2天时,没有出现
测试
效应;间隔1周时出现了
测试
效应。可见1周是本实验条件下
测试
效应比较敏感的时程条件。实验2的目的是考察
测试
效应是过程依赖还是内容依赖。根据实验
1
的结果,选择1周时
科利登sapphire D-10
测试
系统销往欧洲领先的
测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
实验室
测试
系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10
测试
系统。该
测试
实验室将使用这些先进的
测试
系统来
测试
多媒体音,视频数字和混合
科利登具有6.4G速度
测试
能力的Sapphire S
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
科利登系统公司荣获英特尔的优秀质量供应商奖
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
供应商
质量
混合信号
测试
英特尔公司
3月15日
美国加州
测试
系统
数字和
服务
产品
市场
描述:
其他25家公司已于3月15日在加州Burlingame举行的颁奖会上接受这一荣誉。
科利登的Sapphire S
测试
系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
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