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推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
首席执行官易帅
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 首席执行官  公司战略  董事会  继任  首席运营官  主席  半导体行业  测试设备  计划 
描述:划的一部分,这个计划是由公司的执行团队和董事会在几年前设立的。
宣布收购NPTest的最终协议
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  NPTest公司  非DRAM半导体测试领域  企业重组 
描述:宣布收购NPTest的最终协议
Atmel购买科的系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  Atmel公司  测试解决方案  科罗拉多州  有限公司  RF系统  射频芯片  无线器件  开发团队  分支机构  开发时间  ASL  灵活度 
描述:系统有限公司近日宣布,Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
:立志成为全球最大的ATE公司
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体产业  测试  集成电路设计  中国市场  设备公司  中国公司  记者  发展  全球  上海 
描述:China 2004期间,记者访问了科中国公司总经理Steve Chen和科公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  PCI  SIG  HyperTransport组织  系统级芯片 
描述:加入PCI—SIG和HyperTransport组织
:成就测试帝国
作者:安勇龙  来源:电子经理世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述::成就测试帝国
Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
(Cre dence):访科系统(上海)有限公司
作者:丁力  来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统有限公司  陈绪  人物访谈  发展战略  中国市场  测试设备 
描述:2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
公司开创选矿,控制,通讯新技术
作者:Wyl. RJM 张光烈  来源:国外金属矿山 年份:1991 文献类型 :期刊文章 关键词: 选矿  磨矿  药剂  控制  通讯 
描述:公司开创选矿,控制,通讯新技术