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Raytheon公司
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测试
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条
2001年文科综合能力
测试
历史试题的能力考查
作者:
祝旭东
来源:
历史教学
年份:
2001
文献类型 :
期刊文章
关键词:
文科综合
综合能力
测试
历史试题
历史学科
应用能力
历史现象
历史事实
历史概念
历史进程
王安石变法
描述:
2001年文科综合能力
测试
历史试题的能力考查
用下一代基于数字信号处理的仪器应对新兴多频带模拟
测试
挑战
作者:
Ross
Martindale
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模拟/混合信号集成电路
音频编解码器件
音频/视频数字化仪器卡
任意波形发生器仪器卡科利登的ASL
3000
测试
系统
描述:
满足性能需求的仪器.新的多频带模拟仪器的引入,使工程师能够应对从音频到视频,成本敏感的消费类混合信号器件的模拟
测试
挑战.通过提供更多的供电能力,这些新仪器进一步加强了自动化
测试
设备的能力,从而降低了
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
作者:
丁辉文
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
温度稳定装置确
测试
系统
热管理系统
科利登公司
芯片级温度稳定技术
测试
成本
集成电路
描述:
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
科利登:增强型SZ Falcon
测试
系统
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
增强型
串行总线
数字信号处理
任意波形发生器
数据传输
模拟波形
混合信号
测试
程序开发
测试
要求
测试
系统
描述:
科利登:增强型SZ Falcon
测试
系统
科利登推出具有6.4G bps
测试
能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试
能力
自动测试设备
科利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统
测试
和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科利登发布D-6432DFT
测试
解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试
平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire
测试
平台。[第一段]
科利登提供从设计到生产全套的
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
集成电路
测试
技术
系统级芯片
嵌入式温度稳定技术
Personal
Kalos
2
ASL
3000RF
描述:
。为了应对现代SoC、混合信号、
无线
和闪存装置等方面的
测试
挑战,满足半导体工业
测试
范围日益扩大的需要,他们通过整合贯穿设计、验证、生产步骤的
测试
方案,正在改变半导体生产的未来。其
测试
系统被业界领先的整合器件
科利登
测试
系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科利登系统公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire
测试
系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Zetex半导体选择科利登的ASL3000
测试
其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科利登系统公司
类型
测试
解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试
成本
分立器件
产品市场
测试
方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的
测试
方案。
科利登Sapphire S
测试
系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
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