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980
条
ATE巨头
科
利登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——
科
利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
科
利登系统(上海)有限公司正式成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登系统(上海)有限公司正式成立
科
利登系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登系统公司(Credence System)将并购恩普
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型
科
利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型
科
利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试解决方案
系统定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
芯片
描述:
科
利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
Silicon Image购买了
科
利登Sapphire测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试系统
消费类
购买
科
利登系统公司
gigabit
一代
测试解决方案
半导体工业
测试平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科
利登(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利登系统公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
进一步致力于
科
利登在台湾地区用户的支持。
科
利登市场动作频频备受全球业界瞩目
作者:
海菲
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
全球
市场
科
利登系统公司
测试解决方案
半导体工业
描述:
世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科利登系统公司近两个月来连续宣布三个市场动作,备受全球业界瞩目。[第一段]
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