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利登打造业界领导者新形象
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  特征分析  生产测试  市场  发展策略 
描述:设备领域业界领导者的新形象。
利登任命David A.Ranhoff为首席执行官
作者:暂无 来源:电子质量 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司战略  首席执行官  首席运营官  董事会  继任  主席  CEO  博士  计划  管理架构 
描述:前设立的。作为公司新的管理架构的一部分,先前由Ranhoff担任的首席运营官的职位将被取消。
解读苏轼的两次制考试
作者:周云容  来源:文史杂志 年份:2011 文献类型 :期刊文章 关键词: 苏轼    考试  宋仁宗  宋代  进士  翰林学士  欧阳修  王安石  选拔 
描述:参加制考试,而且均入三等,这在宋代是极为特殊的。透过苏轼两次参加制考试的特殊经历,我们将对宋代的制考试有更
全新的利登,1+1>2
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  自动测试设备  测试系统  解决方案  技术专家  研讨会  领导者  非挥发性  团队  结构分析技术 
描述:决方案,并提供了许多种类的测试系统,包括模拟、数字、非挥发性内存、
利登推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  利登系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
利登首席执行官易帅
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 首席执行官  公司战略  董事会  继任  首席运营官  主席  半导体行业  测试设备  计划 
描述:划的一部分,这个计划是由公司的执行团队和董事会在几年前设立的。
利登宣布收购NPTest的最终协议
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  NPTest公司  非DRAM半导体测试领域  企业重组 
描述:利登宣布收购NPTest的最终协议
Atmel购买利登的系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  Atmel公司  测试解决方案  科罗拉多州  有限公司  RF系统  射频芯片  无线器件  开发团队  分支机构  开发时间  ASL  灵活度 
描述:利登系统有限公司近日宣布,Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
利登:立志成为全球最大的ATE公司
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体产业  测试  集成电路设计  中国市场  设备公司  中国公司  记者  发展  全球  上海 
描述:China 2004期间,记者访问了利登中国公司总经理Steve Chen和利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
利登加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  PCI  SIG  HyperTransport组织  系统级芯片 
描述:利登加入PCI—SIG和HyperTransport组织