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测试
器件
半导体工业
半导体生产
半导体材料
科利登公司
失效分析
器件测试
Raytheon公司
公司
半导体市场
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半导体产业
全球范围
存储器件
Sapphire
分支机构
发展
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增强型
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根据【检索词:科利登系统公司】搜索到相关结果
462
条
Atmel购买
科
利
登
的
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
Atmel
公司
测试解决方案
科罗拉多州
有限公司
RF
系统
射频芯片
无线器件
开发团队
分支机构
开发时间
ASL
灵活度
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布,Atmel
公司
购买了ASL 3000RF
系统
作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
科
利
登
:立志成为全球最大的ATE
公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备
公司
中国
公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China 2004期间,记者访问了
科
利
登
中国
公司
总经理Steve Chen和
科
利
登
公司
产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
科
利
登
(Cre dence):访
科
利
登
系统
(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
美国
利
登
公司
试验激光陀螺惯性
系统
作者:
暂无
来源:
国际航空
年份:
1982
文献类型 :
期刊文章
描述:
美国
利
登
公司
试验激光陀螺惯性
系统
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换
系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
科
利
登
:增强型SZ Falcon测试
系统
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
增强型
串行总线
数字信号处理
任意波形发生器
数据传输
模拟波形
混合信号
测试程序开发
测试要求
测试
系统
描述:
科
利
登
:增强型SZ Falcon测试
系统
Zetex半导体购买多台
科
利
登
ASL3000
系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科
利
登
系统
公司
混合信号
测试成本
器件
拟和
描述:
科
利
登
系统
公司
日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000
系统
用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换
系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该
系统
与
科
利
登
的EmiScope
系统
(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
科
利
登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司
13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
科
利
登
Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems
公司
Sun
公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
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