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:立志成为全球最大的ATE公司
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体产业  测试  集成电路设计  中国市场  设备公司  中国公司  记者  发展  全球  上海 
描述:China 2004期间,记者访问了科中国公司总经理Steve Chen和科公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  PCI  SIG  HyperTransport组织  系统级芯片 
描述:加入PCI—SIG和HyperTransport组织
:成就测试帝国
作者:安勇龙  来源:电子经理世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述::成就测试帝国
Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
(Cre dence):访科系统(上海)有限公司
作者:丁力  来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统有限公司  陈绪  人物访谈  发展战略  中国市场  测试设备 
描述:2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
公司开创选矿,控制,通讯新技术
作者:Wyl. RJM 张光烈  来源:国外金属矿山 年份:1991 文献类型 :期刊文章 关键词: 选矿  磨矿  药剂  控制  通讯 
描述:公司开创选矿,控制,通讯新技术
创建业界领导者——科投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——科投资人更新
D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:暂无 来源:世界电子元器件 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 高数据速率  测试解决方案  系统公司  半导体器件  高速串行总线  可测性设计  微处理器  环路测试 
描述:的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
(Boliden)法焙烧含砷黄铁矿
作者:暂无 来源:硫酸工业 年份:1970 文献类型 :期刊文章 关键词: 含砷黄铁矿  BASF  矿渣  两段法  焙烧炉  磁铁矿  赫尔  赤铁矿  砷酸  二步焙烧 
描述:使一硫化铁进一步氧化成三氧化二铁(赤铁矿)。而在通常的沸腾炉内,黄铁矿几乎全部氧化为赤铁矿,它能与存在的氧化砷反应形成稳定的不挥发的砷酸铁:
新型科GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型科GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率