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相关搜索词
失效分析
失效模式
供应商
图像叠加
测试
存储器件
器件
半导体材料
加工成本
半导体工业
半导体生产
半导体业
Sapphire
分支机构
同期
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Verity系统
科利登公司
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半导体行业
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根据【检索词:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率】搜索到相关结果
527
条
Zetex半导体购买多台
科
利
登
ASL3000
系统
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
半导体
购买
科
利
登
系统
公司
混合信号
测试成本
器件
拟和
描述:
科
利
登
系统
公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000
系统
用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
Raytheon公司选用
科
利
登
的IMS Electra
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
逻辑集成电路
验证测试
系统
多芯片模块
系统
公司
性能可靠
系统
测试
商业部
失效分析
测试工程
系统
架构
描述:
科
利
登
系统
公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运
系统
商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试
系统
。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试
系统
,能
科
利
登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
科
利
登
Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
科
利
登
SZ M3650
系统
得到汽车半导体厂商的青睐
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
汽车工业
综合测试
系统
气动踏板
开发应用
AMIS
安全气囊
并行测试
ASIC
精度测试
描述:
科
利
登
SZ M3650
系统
得到汽车半导体厂商的青睐
科
利
登
(Credence)公司混合信号测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号测试
测试
系统
电子器件
测试设备
提高
成品率
器件测试
电子芯片
测试成本
集成电路
测试要求
描述:
科
利
登
(Credence)公司混合信号测试
系统
科
利
登
系统
荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
有限公司
测试解决方案
测量
系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从
设计
到生产测试解决方案的领先供应商——
科
利
登
系统
有限公司日前宣布其S apphire D-10
系统
荣获
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
(上海)有限公司正式成立
科
利
登
系统
公司(Credence System)将并购恩普
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
公司(Credence System)将并购恩普
通过购买多台
科
利
登
的ASL1000测试
系统
Best Ele
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL1000
供应商
购买
半导体行业
Components公司
世界
有限公司
测试成本
混合信号
测试解决方案
描述:
ECCI是业界领先的测试方案供应商,可以为线性、模拟和混合信号器件提供参数及功能测试的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM测试温度传感器,
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