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条
Zetex半导体选择
科
利登的ASL3000测试其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利登系统公司
类型
测试解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试成本
分立器件
产品市场
测试方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
IC China2005
科
利登公司展品介绍
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
展品介绍
IC
Kalos
描述:
Sapphire D-10;Kalos;Falcon。[第一段]
科
利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利登系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科
利登与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工程
合作
北方
科
利登系统公司
IC
半导体产品
SoC测试
工业大学
特性分析
描述:
科
利登系统公司日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
科
利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
Sapphire D-10来自
科
利登的测试经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利登的测试经济化革新
科
利登与蔚华科技合并台湾业务
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科
利登系统公司
业务
股份有限公司
测试解决方案
半导体行业
技术整合
测试设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
务,从而进一步致力于对
科
利登在台湾地区的用户的支持。
科
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述:
科
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
科
利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
汽车工业
综合测试系统
气动踏板
开发应用
AMIS
安全气囊
并行测试
ASIC
精度测试
描述:
科
利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
科
利登(Credence)公司混合信号测试系统
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号测试
测试系统
电子器件
测试设备
提高成品率
器件测试
电子芯片
测试成本
集成电路
测试要求
描述:
科
利登(Credence)公司混合信号测试系统
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