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Zetex半导体选择利登的ASL3000测试其类型广泛的
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  混合信号  拟和  利登系统公司  类型  测试解决方案  集成电路器件  美国加州  半导体业  测试成本  分立器件  产品市场  测试方案  供应商  设计 
描述:说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
IC China2005利登公司展品介绍
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  展品介绍  IC  Kalos 
描述:Sapphire D-10;Kalos;Falcon。[第一段]
利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI  超大规模集成电路  测试  利登系统公司  ATE  供应商  满意度 
描述:利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
利登与北方工大合作成立IC工程培训中心
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心  工程  合作  北方  利登系统公司  IC  半导体产品  SoC测试  工业大学  特性分析 
描述:利登系统公司日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
Sapphire D-10来自利登的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自利登的测试经济化革新
利登与蔚华科技合并台湾业务
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Integration  合并  科技  利登系统公司  业务  股份有限公司  测试解决方案  半导体行业  技术整合  测试设备  集中培训  台湾地区  供应商  人力 
描述:务,从而进一步致力于对利登在台湾地区的用户的支持。
利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:王明伟  来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 新潮流  测试系统  低成本  半导体工业  生产商  解决方案  经济化  产品测试  技术发展  测试设备 
描述:利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体  汽车工业  综合测试系统  气动踏板  开发应用  AMIS  安全气囊  并行测试  ASIC  精度测试 
描述:利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐
利登(Credence)公司混合信号测试系统
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 混合信号测试  测试系统  电子器件  测试设备  提高成品率  器件测试  电子芯片  测试成本  集成电路  测试要求 
描述:利登(Credence)公司混合信号测试系统