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登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科登在SEMICON China展会上
服务测试领域 满足客户需求:访科登系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  登公司  工业设计 
描述:登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
第四届科登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨会  西安  中国  年会  IC测试  RFID芯片 
描述:对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自科登的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的科登最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:在2006年度VLSI Research客户满意度调查中,科登公司再次取得了很好的排名。科登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了科登公司的产品、客户服务和支持的独到之处
ELMOS购买多台科登Piranha^TM系统用于汽车器
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  产品线  汽车工业  合作伙伴  制造商  系统  公司  器件  TM  测试 
描述:到30
Ikanos选用科登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  Ikanos公司  Octet  数字信号处理  并行测试 
描述:Ikanos选用科登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
登公司预测2004年铜价与锌价继续上涨
作者:暂无 来源:中国矿山工程 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 矿产经济      市场价格 
描述:登公司预测2004年铜价与锌价继续上涨
登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  VLSI公司  用户满意度  自动测试设备 
描述:登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
Ikanos选择科登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 宽带数字信号处理器  测试  Octet系统  Ikanos公司 
描述:Ikanos选择科登的Octet系统用于宽带数宇信号处理