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日月光定购多台科登的SoC测试系统Octet
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: SoC测试  半导体测试  生产测试  器件  光测  系统性能  测试能力  纳斯达克  股票  量产 
描述:统性能和测试能力,可以满足下一代器件技术,对测试系统测试容量和范围的要求。
登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 登公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:登公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
Micrel购买科登ASL系统用于混合信号测试
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: Micrel公司  登系统公司  混合信号测试  ASL3000  ASL1000 
描述:Micrel购买科登ASL系统用于混合信号测试
登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 登系统公司  中国市场  测试成本  量产时间  解决方案  ASL  3000RF 
描述:登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM
登端对端6.4Gbps高速总线解决方案提供业界领先的性
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 高速总线  端对端  成本优势  测试选件  产品系列  有限公司  芯片测试  成本优化  验证分析 
描述:。[第一段]
登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  登系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
全球有超过150套的科登的3.2Gbps测试设备用于高速
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:被全球10大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。科登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试,包括HyperTransport
欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科登Sapp
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:频数字和混合信号芯片,以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
香港科技园运用科登先进的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:个完整的失效分析实验室,从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷,帮助客户缩短产品上市时间,降低生产成本。[第一段]