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条
科
利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
科
利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
科
利登与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工业大学
合作
北方
2004年6月
科
利登系统公司
工程
测试解决方案
半导体工业
半导体产品
SOC测试
特性分析
混合信号
供应商
描述:
2004年6月14日,美围加州MILPITAS--
科
利登系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
科
利登系统公司2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登系统公司2004年第二季度财务报告
在MediaTek推动下多台
科
利登Sapphire NP系
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
MediaTek公司
Sapphire
NP系统
测试系统
测试容量
DVD市场
描述:
在MediaTek推动下多台
科
利登Sapphire NP系
Ikanos选择
科
利登的Octet测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
Ikanos通讯公司
Octet测试系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择
科
利登的Octet测试系统
全新的
科
利登:提供先进技术降低测试成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登公司
测试成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的
科
利登:提供先进技术降低测试成本
科
利登任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利登系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利登董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
DMEA购买
科
利登IMS Vanguard测试系统
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
DMEA工程实验室
IMS
Vanguard测试系统
科
利登公司
微处理器
描述:
DMEA购买
科
利登IMS Vanguard测试系统
市场要闻:
科
利登(credence)系统公司(北京、上海)
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
2004年6月15、18日
科
利登(credence)系统公司技术研讨会分别在上海、北京举行。众多国内外IC测试专家、学者及国内晶圆代工厂、封装测试企业的相关工程师出席了本次会议。
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