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科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 系统科利登系统有限公司 SEMICON China展会 Sapphire D 10 失效分析; 描述：科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上详细介绍了以下产品：[第一段]

科利登具有6．4G速度测试能力的Sapphire S测试系统: 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型：期刊文章; 描述：自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]

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